鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：
1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調零完畢。
4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機，并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數(shù)字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，并且自動轉換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質量管控。

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